English ⇄ Russian

in previous Chapters, we have pointed out the growing impact of interconnect parasitics on all design metrics of digital integrated circuits stresses
el.	в предыдущих главах мы отмечали растущее влияние паразитных явлений межсоединений на все метрики проектирования дизайна цифровых интегральных схем (см. Digital Integrated Circuits – A Design Perspective 2/e by Jan M. Rabaey, Anantha Chandrakasan, Borivoje Nikolić 2003)