Sign in
|
English
|
Terms of Use
Dictionary
Forum
Contacts
Russian
⇄
Abkhaz
Afrikaans
Arabic
Basque
Bulgarian
Catalan
Chinese
Czech
Danish
Dutch
English
Esperanto
Estonian
Finnish
French
Georgian
German
Greek
Hebrew
Hindi
Hungarian
Icelandic
Italian
Japanese
Kalmyk
Kazakh
Khmer
Korean
Latvian
Lithuanian
Norwegian Bokmål
Persian
Polish
Portuguese
Romanian
Russian
Scottish Gaelic
Serbian
Serbian Latin
Slovak
Slovene
Spanish
Swedish
Tajik
Turkish
Ukrainian
Vietnamese
Terms
for subject
Microelectronics
containing
контроль
|
all forms
|
exact matches only
Russian
German
автономный
технологический
контроль
Offline-Kontrolle
альтернативный принцип
контроля
Go-No-Go-Prinzip
аппаратный
контроль
Hardwareprüfung
бит
контроля
Prüfbit
внутрисхемный
контроль
in-circuit test In-Circuit-Test
In-Circuit-Test внутрисхемный
контроль
in-circuit test
возможность
контроля
Testbarkeit
встроенная аппаратура
контроля
Built-In Test Equipment
встроенная схема
контроля
built-in test
встроенная схема
контроля
Built-in-Test
встроенный
контроль
built-in test
встроенный
контроль
Built-in-Test
входной
контроль
Abnahmekontrolle
выборочный
контроль
Auswahlkontrolle
выборочный
контроль
по количественному признаку
Variablenstichprobe
выборочный
контроль
по количественным параметрам
Variablenstichprobe
выборочный
контроль
по результатам проверки двух выборок
Doppelstichprobenprüfung
выход годных
кристаллов
на операции зондового
контроля
Prüfausbeute
выход годных
изделий
на промежуточном
контроле
Zwischenausbeute
выходной
контроль
Endprüfung
двухступенчатый выборочный
контроль
Doppelstichprobenprüfung
диагностический
контроль
Fehlersuchprüfung
зондовая установка для
контроля
полупроводниковых пластин
Waferprüfgerät
зондовая установка для
контроля
полупроводниковых пластин
Wafer-Prober
изображение, полученное с помощью растрового электронного микроскопа для
контроля
ИС по величине эдс тока, индуцированного электронным лучом
EBIC-Bild
индикатор
контроля
знака
Vorzeichenprüfanzeige
катушка установки зондового
контроля
полупроводниковых пластин
Wafertestspule
контроль
внешнего вида
Sichtprüfung
(изделий)
контроль
внешнего вида
Sichtkontrolle
(изделий)
контроль
данных
Datenprüfung
контроль
динамических параметров
AC-Test
контроль
динамических параметров
AC-Parametertest
контроль
знака
Vorzeichenprüfung
контроль
ИС
Chiptestung
контроль
ИС
Chipprüfung
контроль
качества поверхностного монтажа
SMD-Bestückungskontrolle
контроль
качества позиционирования и монтажа компонентов на поверхность плат
SMD-Bestückungskontrolle
контроль
компонентов ИС
Bauelementeprüfung
контроль
кристаллов
Chipprüfung
контроль
кристаллов
Chiptestung
(ИС)
контроль
методом обратной передачи
Schleifentest
контроль
плоскостности
Ebenheitsprüfung
контроль
по альтернативному признаку
Gut-Schlecht-Prüfung
контроль
по альтернативному признаку
Gut-Ausschuss-Prüfung
контроль
по альтернативному признаку
Gut-Schlecht-Test
контроль
по альтернативному признаку
Go-No-Go-Prüfung
контроль
по количественным параметрам
Variablenprüfung
контроль
подложек
Wafertest
контроль
полупроводниковых пластин
Wafertest
контроль
полупроводниковых пластин
Waferkontrolle
контроль
размеров элементов структуры
Strukturgrößenkontrolle
контроль
с введением избыточности
Redundanzprüfung
контроль
статических параметров
DC-Test
контроль
статических параметров
DC-Parametertest
контроль
точности совмещения
Überdeckungsprüfung
контроль
точности совмещения
Überdeckungskontrolle
контроль
функциональных модулей
Bauelementeprüfung
контроль
циклическим избыточным кодом
CRC-Testung
контроль
элементов ИС
Bauelementeprüfung
лазерный
контроль
интегральных микросхем
Integrated Curcuit Laser Testing
лазерный
контроль
интегральных микросхем
IS-Lasertesten
лазерный
контроль
интегральных
микро
схем
Integrated Curcuit Laser Testing
лазерный
контроль
интегральных
микро
схем
IS-Lasertesten
матрица
контроля
ИС
Schaltkreisprüfebene
метод зондового
контроля
Sondenprüfverfahren
метод
контроля
Kontrollmethode
метод
контроля
ИС по величине эдс тока, индуцированного электронным лучом
EMK EBIC-Verfahren
метод
контроля
ИС по величине эдс тока, индуцированного электронным лучом
EBIC-Verfahren
метод неразрушающего
контроля
zerstörungsfreies Prüfverfahren
метод неразрушающего
контроля
zerstörungsfreie Kontrollmethode
микроскоп визуального
контроля
Justiermikroskop
(совмещения)
микроскоп визуального
контроля
Einblickmikroskop
микроскоп для визуального
контроля
полупроводниковых пластин
Waferkontrollmikroskop
петлевой
контроль
Schleifentest
петлевой
контроль
Rückschleifentest
план выборочного
контроля
Stichprobenplan
пост визуального
контроля
качества
полупроводниковых пластин
Waferkontrollplatz
прибор для
контроля
фотошаблонов
Maskenprüfgerät
прибор для
контроля
шаблонов
Maskenprüfgerät
программа
контроля
и коррекции ошибок
Fehlermaßnahmeprogramm
программа
контроля
ошибок
Fehlermaßnahmeprogramm
производственный
контроль
Fertigungsüberwachung
радиолокационная установка для
контроля
скорости движения автотранспорта
Verkehrsradar
статистический
контроль
качества
statische Qualitätskontrolle
статистический
контроль
качества
statistiche Qualitätskontrolle
тестовая структура для
контроля
правильности совмещения
Überdeckungsstruktur
технический
контроль
Gütekontrolle
технологический
контроль
непосредственно на линии
Online-Kontrolle
установка автоматизированного
контроля
качества поверхностного монтажа
SMD-Bestückungskontrollsystem
(со встроенной системой технического зрения)
установка для
контроля
прочности присоединения
Bondprüfgerät
(кристалла к подложке)
установка зондового
контроля
Sondenanordnung
установка зондового
контроля
кристаллов
Chipprüfsonde
(ИС)
установка зондового
контроля
полупроводниковых пластин
Wafertester
установка многозондового
контроля
Vielfachsondentaster
устройство автоматического
контроля
Testautomat
(кристаллов ИС)
Get short URL