| Russian | English |
| аберрационная характеристика | aberration characteristic |
| акустическая характеристика | acoustic response |
| амплитудно-частотная характеристика | frequency characteristic |
| амплитудно-частотная характеристика | response |
| базовая характеристика | base characteristic |
| внешние характеристики прибора | terminal characteristics of device |
| вольт-амперная характеристика | current-voltage relationship |
| вольт-амперная характеристика без участка насыщения | nonsaturation current-voltage characteristic |
| вольт-фарадная характеристика | voltage-capacitance characteristic |
| вольт-фарадная характеристика | capacitance-voltage relationship |
| входная характеристика | emitter characteristic |
| входная характеристика | base characteristic |
| высокочастотные характеристики | high-frequency performance |
| выходная характеристика | collector characteristic |
| изменение характеристик от партии к партии | run-to-run variation |
| изменение электрических характеристик заряда | contact electrical evaluation |
| КИХ-фильтр с линейной фазовой характеристикой | linear-phase FIR filter (ssn) |
| КИХ-фильтр с линейной фазовой характеристикой | linear phase FIR filter (ssn) |
| класс приборов, сгруппированных по близости физических характеристик | placement class |
| коэффициенты импульсной характеристики | impulse response coefficients (напр., КИХ-фильтров с линейной фазовой характеристикой ssn) |
| коэффициенты импульсной характеристики КИХ-фильтров с линейной фазовой характеристикой | impulse response coefficients for linear phase FIR filters (ssn) |
| модуляционная характеристика | modulation lasing |
| номинальная рабочая характеристика | guaranteed performance characteristic |
| определение характеристик | properties characterization |
| передаточная характеристика | transfer characteristic |
| подпороговая характеристика | subthreshold characteristic |
| поляризационная характеристика | polarization lasing |
| программа контроля электрических характеристик БИС | electrical performance checker |
| процедуры автоматического или интерактивного определения характеристик схемы | analysis tools |
| процедуры автоматического определения характеристик схемы | analysis tools |
| процедуры интерактивного определения характеристик схемы | analysis tools |
| реализация фильтра с конечной импульсной характеристикой | implementation of FIR filter (ssn) |
| с линейной фазовой характеристикой | linear-phase (ssn) |
| сдвиг CV вольт-фарадной характеристики | C/V curve shift (semfromshire) |
| симметрия коэффициентов импульсной характеристики КИХ-фильтров с линейной фазовой характеристикой | symmetry in the impulse response coefficients for linear phase FIR filters (ssn) |
| спектральная характеристика | spectral lasing |
| статическая характеристика в состоянии равновесия | steady-state characteristic |
| структура с линейной фазовой характеристикой | linear phase structure (ssn) |
| сужение CV вольт-фарадной характеристики | C/V curve narrowing (semfromshire) |
| температурно-амперная характеристика | current-temperature characteristic (вовка) |
| улучшение массогабаритных характеристик | space-weight saving |
| фазовая характеристика | phase lasting |
| фильтр с импульсной характеристикой конечной длительности | finite-impulse-response filter (может быть как аппаратным, так и программным, может работать в последовательном, параллельном или последовательно-параллельном режиме. Основное свойство КИХ-фильтра – число звеньев (умножителей, коэффициентов), требуемых для вычисления каждого выходного значения. При параллельной реализации число звеньев или коэффициентов равно числу умножителей, а при последовательной используется один умножитель, выполняющий все операции умножения. В каждом цикле тактовой частоты входные данные умножаются на коэффициенты (статические, определяющие частотную характеристику фильтра), после чего выходные значения всех умножителей суммируются, образуя одно выходное значение для текущего такта (этот процесс называется нахождением скалярного произведения). В следующем такте данные сдвигаются на одну позицию относительно коэффициентов, и процесс повторяется (этот процесс называется свёрткой) ssn) |
| фильтр с импульсной характеристикой конечной длительности | finite impulse response filter (может быть как аппаратным, так и программным, может работать в последовательном, параллельном или последовательно-параллельном режиме. Основное свойство КИХ-фильтра – число звеньев (умножителей, коэффициентов), требуемых для вычисления каждого выходного значения. При параллельной реализации число звеньев или коэффициентов равно числу умножителей, а при последовательной используется один умножитель, выполняющий все операции умножения. В каждом цикле тактовой частоты входные данные умножаются на коэффициенты (статические, определяющие частотную характеристику фильтра), после чего выходные значения всех умножителей суммируются, образуя одно выходное значение для текущего такта (этот процесс называется нахождением скалярного произведения). В следующем такте данные сдвигаются на одну позицию относительно коэффициентов, и процесс повторяется (этот процесс называется свёрткой) ssn) |
| фильтр с импульсной характеристикой конечной длительности | FIR filter (ssn) |
| фильтр с конечной импульсной характеристикой | finite-impulse-response filter (ssn) |
| характеристика изображения | image characteristic |
| характеристика моды | mode lasing |
| характеристика на участке насыщения | performance characteristic |
| характеристика насыщения | saturation lasing |
| характеристика откачки | pumpdown curve |
| характеристика переходного процесса | transient curve |
| характеристика поверхности раздела | interfacial characteristic |
| характеристика полупроводника | semiconductor behavior |
| характеристика при обратном смещении | reverse characteristic |
| характеристика с отрицательным сопротивлением | negative-resistance characteristic |
| характеристика с-типа | s-type characteristic |
| характеристика с-типа | current-stable characteristic |
| характеристика n-типа | n-type characteristic |
| характеристика n-типа | voltage-stable characteristic |
| характеристика эпитаксиального слоя | epitaxial-layer characteristic |
| характеристика эпитаксиального слоя | epi-layer characteristic |
| характеристики БИС | LSI qualifications |
| характеристики БИС | LSI characterization |
| характеристики вносимых потерь | insertion loss specification (semfromshire) |
| характеристики ИС | integrated-circuit performance |
| характеристики компонента | component specifications |
| характеристики МОП-технологии | mos-process characterization |
| характеристики подложек | substrate qualifications |
| характеристики технологического процесса | technological parameters |
| характеристики фильтра | filter specifications (semfromshire) |
| частотная характеристика | response lasing |
| электрические характеристики | electrical performance |
| эмиттерная характеристика | emitter characteristic |
