English | Russian |
a microscope can be used for | микроскоп используется для наблюдения по методу (e. g., dark-field or bright-field work; напр., тёмного или светлого поля) |
a microscope forms an | микроскоп даёт (e. g., erect or inverted image; напр., прямое или перевёрнутое изображение) |
a microscope is intended for | микроскоп предназначен для наблюдения в (e. g., transmitted or reflected light work; напр., проходящем или отражённом свете) |
a microscope operates by the phase-contrast method | микроскоп работает по принципу фазового контраста |
acoustical holographic microscope | акустический голографический микроскоп |
an interference microscope measures minute depths of roughness on finished surfaces | микроинтерферометр измеряет неровности на обработанных наружных поверхностях |
atomic force microscopes | микроскопы атомных сил |
atomic-force microscope | атомно-силовой микроскоп |
break the vacuum in an electronical microscope | нарушать вакуум в электронном микроскопе |
computational microscope | компьютерный микроскоп |
computer-video microscope system | микроскоп с телевизионным ЭВМ-корректором и изображения |
confocal synchrotron-radiation microscope | конфокальный микроскоп синхротронного излучения |
contact X-ray microscope | контактный рентгеновский микроскоп |
diffraction microscope | дифракционный микроскоп |
direct measurement of the force of adhesion of a single particle using an atomic force microscope | непосредственное измерение силы сцепления отдельной частицы с использованием атомного силового микроскопа |
electron microscope column | колонна электронного микроскопа |
electron microscope image | электронно-микроскопическое изображение |
electron microscopes | электронные микроскопы |
electronic microscope | электронный микроскоп |
examination of the microstructure of snow and ice in thin sections with the use of the polarizing microscope | изучение микроструктуры снега и льда в тонких шлифах под поляризационным микроскопом |
ferrocene moieties immobilized on atomic force microscope | ферроценовые группы, иммобилизованные на остриё атомного силового микроскопа |
field electron microscope | полевой электронный микроскоп |
field emission microscope | полевой эмиссионный микроскоп |
field ion microscope | полевой ионный микроскоп |
field-ion microscope | автоионный микроскоп (ионный проектор) |
field-ionization ion microscope | полевой ионизационный ионный микроскоп |
flying-spot microscope | микроскоп c бегущим лучом |
focusing microscope | фокусировочная лупа |
grazing incidence X-ray microscope | рентгеновский микроскоп скользящего падения |
high-resolution electron microscope | электронный микроскоп высокого разрешения |
high-voltage electron microscope | электронный микроскоп высокого напряжения (HVEM) |
imaging X-ray microscope | изображающий рентгеновский микроскоп |
interference microscope for incident light | микроинтерферометр, работающий в отражённом свете |
interference microscope for reflected light | микроинтерферометр, работающий в отражённом свете |
interference microscope measures minute depths of roughness on finished surfaces | микроинтерферометр измеряет неровности на обработанных наружных поверхностях |
inverted NIR-FT-Raman-microscope | микроскоп на основе инверсного комбинационного рассеяния с возбуждением в ближней ИК-области |
laser photoelectron microscope | лазерный фотоэлектронный микроскоп |
laser photoion microscope | лазерный фотоионный микроскоп |
laser projecting microscope | лазерный проекционный микроскоп |
laser projection microscope | лазерный проекционный микроскоп |
laser-acoustical microscope | фотоакустический микроскоп |
laser-acoustical microscope | лазерно-акустический микроскоп |
luminescence microscope | люминесцентный микроскоп |
mapping of integrated chip using infrared microscope | картографирование поверхности интегральной схемы с помощью инфракрасного микроскопа |
measurements with polarized light on sample cross-section by means of IR microscope | измерения на поперечном сечении образца с помощью ИК-микроскопа в поляризованном свете |
metallurgical microscope | металлмикроскоп |
microscope can be used for | микроскоп используется для наблюдения по методу (e. g., dark-field or bright-field work; напр., тёмного или светлого поля) |
microscope forms an | микроскоп даёт (e. g., erect or inverted image; напр., прямое или перевёрнутое изображение) |
microscope is intended for | микроскоп предназначен для наблюдения в (e. g., transmitted or reflected light work; напр., проходящем или отражённом свете) |
microscope operates by the phase-contrast method | микроскоп работает по принципу фазового контраста |
microscope slide | микропрепарат |
microscope stage | предметный столик микроскопа |
mirror X-ray microscope | зеркальный рентгеновский микроскоп |
near-field microscope | ближнепольный микроскоп |
neutron microscope | нейтронный микроскоп |
normal incidence X-ray microscope | рентгеновский микроскоп нормального падения |
optical heterodyne microscope | оптический гетеродинный микроскоп |
oscillation microscope | осцилляционный микроскоп |
photoacoustical microscope | фотоакустический микроскоп |
photoacoustical microscope | лазерно-акустический микроскоп |
polarization microscope | поляризационный микроскоп |
projection microscope method | метод проекционной микроскопии (для определения диаметра шёрстного волокна) |
projection X-ray microscope | проекционный рентгеновский микроскоп |
put under a microscope | разбирать по косточкам |
put something, someone under the microscope | подвергнуть что-либо, кого-либо тщательному исследованию |
raster electron microscope | сканирующий электронный микроскоп |
raster electron microscope | растровый электронный микроскоп |
reflection X-ray microscope | отражательный рентгеновский микроскоп |
scanning atomic-force microscope | сканирующий атомно-силовой микроскоп |
scanning electron microscope | растровый электронный микроскоп (SEM) |
scanning probe microscopes | микроскопы со сканирующим зондом |
scanning tunnel microscope | сканирующий туннельный микроскоп |
scanning X-ray microscope | сканирующий рентгеновский микроскоп |
sedimentation microscope | седиментационный микроскоп |
simultaneous analysis of membrane potential and calcium mobilization in a pancreatic _b-cell line MIN6 by use of a double-probe imaging microscope-system | одновременное определение потенциала мембраны и мобилизации кальция в панкреатической _b-клетке MIN6 с использованием двукратного изображения микроскопических систем |
the field of microscope | поле обзора микроскопа |
the lymph glands are taken away and examined under a microscope | лимфатические железы были удалены и исследованы под микроскопом |
the principle of scanning electron microscope | принцип устройства сканирующего электронного микроскопа |
thin polished section of ice used in microscope studies | тонкий срез льда, используемый для исследования с помощью микроскопа |
transmission electron microscope | просвечивающий электронный микроскоп (TEM) |
transmission X-ray microscope | просвечивающий рентгеновский микроскоп |
two-mirror achromatic neutron microscope | двухзеркальный ахроматический нейтронный микроскоп |
ultrahigh-voltage microscope | высоковольтный микроскоп |
ultra-violet microscope | ультрафиолетовый микроскоп |
view in a microscope | рассматривать в микроскоп |
view under a microscope | рассматривать в микроскоп |
visible in a microscope | видимый в микроскоп |
X-ray diffraction microscope | дифракционный рентгеновский микроскоп |
X-ray microscopes | рентгеновские микроскопы |