Single event fucntional interrupt (SEFI) и
Single event hard error (SHE)?

Заранее благодарен за ваши версии

SEFI are a class of failures where addressing/decoding/control logic of a memory is affected by a single event - т.е. ближе к логическим

Военная и аэрокосмическая аппаратура, коммерческая память и логика являются восприимчивыми к ЭОД пяти типов:
1) случайный сбой (SEU – single-event upsets),
2) защелкивание в результате случайного сбоя (SEL – single-event
latchups),
3) однократное прерывание функций (SEFI – single-event functional interrupt),
4) прожиг из-за однократного сбоя(SEB – single-event burnout),
5) однократная импульсная помеха(SET – single-event transient).
Случайные сбоиSEUs, наиболее частый вид ЭОД, имеют характер перемежающихся отказов. Их причина– внешняя радиация, космическое излучение. Они возникают, когда радиационное воздействие приводит к переключению состояния из единицы в нуль или из нуля в единицу. При
случайном сбое система, как правило, требует обнуления, после чего может работать нормально до следующей помехи.
Защелкивания SELs возникают, когда под действием радиации внезапно падает напряжение, что в итоге приводит к формированию двойной биполярной цепи и возрастанию тока в схеме, что может привести к перегреву устройства вплоть до его разрушения. Считается, что перезагрузка помогает
выйти из защелкивания. Однако, само защелкивание может вызывать как прямой, так и скрытый дефекты устройства, например, электромиграцию.
Отказы типаSEFI возникают, когда счетчик команд микрокомпьютера под действием радиации смещается на10 строк, так что схема не понимает уже, 17
какие действия ей производить. Такая ошибка может переводить устройство в режим бесконечной самопроверки на наличие питания до внешней принудительной перезагрузки.
К помехамSEB относят случайные однократные запирания вентилей при воздействии радиации большой интенсивности, вызывающей утечку в
оксидном слое затвора, что ведёт к разрушению вентиля, изменению состояния
кристалла и вероятному нарушению работоспособности системы. Помехи типа
SEB являются редкими и непредсказуемыми, обычно встречающимися в
мощных высоковольтных полевых транзисторах.
Помехи типаSET возникают в тех случаях, когда под действием радиации возникают ложные сигналы, т.е. в логических ячейках, памяти и программируемой логике.

SEFI - Одиночное функциональ­ное прерыва­ние

Видимо один из вариантов менее корректен или не корректен вообще.

Прерывание функций = выполняются некоторые функции и вы прерываете их работу по причине какого - то события, которое, вообще говоря, никак не связано с этими функциями. (в данном случае это очевидно не то, да и вообще трудно придумать где такая фраза может пригодится)

Функциональное прерывание = классификация прерывания, в системе отличной от элементарной, а именно, апаратное, програмное ... . Например это можно понимать что возникла проблема в функционировании какого -то элемента, компонента и т.д

Логическое прерывание (logical interrupt) — прерывание в работе процессора, возникающее при различных нестандартных ситуациях в работе ...

В данном случае logical указывает не на источник прерывание, а на его тип, как и functional

Конечно, против этого трудно что - то возразить.

Вероятно Вы правы.