Unlike conventional confocal microscopes, which operate by rejecting out-of-focus light through the use of pinhole, structured illumination microscopy (SIM) utlizes moire fringes to illuminate the biological structures with spatially structured excitation light, thus gaining access to otherwise inaccessible high resolution information.

В отличие от традиционных конфокальных микроскопов, работающих за счет ?? несфокусированного света с помощью (?)точечных отверстий, микроскопия на основе технологии структурированного освещения использует муаровые полосы для освещения биологических структур при помощи? пространственно структурированного возбуждающего излучения, получая тем самым доступ к информации высокого разрешения??, которую невозможно получить другими способами.

В отличие от традиционных конфокальных микроскопов, работающих за счет ограничения (правда, в оригинале вообще rejecting...) потока фонового рассеянного света, что достигается использованием апертуры, микроскопия на основе технологии структурированного освещения использует муаровые полосы для освещения биологических структур при помощи пространственно структурированного возбуждающего излучения, получая тем самым доступ к информации высокого разрешения, которую невозможно получить другими способами.

pinhole rejecting out-of-focus light - это и есть апертура, ограничивающая поток фонового рассеянного света ...

В отличие от традиционных конфокальных микроскопов, в которых используется апертура, ограничивающая поток фонового рассеянного света ....

используется "муаровый эффект" (муар, возникающий при освещении того что надо разглядеть) ...

Муаровый узор образуется также при наложении двух непересекающихся систем равноудаленных параллельных линий, когда величина шага одной из систем слегка отлична от другой. При этом, чем меньше разница в шаге, тем больше расстояние между муаровыми полосами. Это позволяет получить колоссальное увеличение (в миллионы раз) разницы в ширине промежутков между линиями. Иначе говоря муаровый эффект дает возможность визуально без применения оптических систем, обнаруживать ничтожные отклонения в почти одинаковых периодических структурах. В настоящее время метод муара широко применяют при контроле точности делительных устройств для изготовления дифракционных решеток.

Муар возникает на электронной микрофотографии двух кристаллов, наложенных таким образом, что их атомные решетки почти совпадают. Любой дефект нарушающий регулярность структуры кристалла, четко проявляется в муаровом узоре. Увеличение при этом таково, что позволяет видеть смещения атомов, величины которых меньше диаметра самого атома.