 |
| |||
| анализ покрытия на уровне реализации (это мероприятия по проверке микроархитектурных особенностей готовой реализации. Подразумевают под собой ряд решений, которые встраиваются в RТL-описание устройства для наблюдения за его тупиковыми состояниями, напр., это может касаться глубины буфера FIFO и тупиковых ситуаций, связанных с его опустошением и полным заполнением. Такие детали реализации редко удаётся проследить на уровне спецификации ssn) | |||