im – phrases

Terms for subject Microelectronics containing im | all forms | exact matches only

German	English
Abgleich im Eingangskreis	balance in the input circuit
Ablagerung von Sauerstoff im Material des Siliziumwafers	precipitation of oxygen in the bulk of the silicon wafer
Ablauf im gleichen Zeitintervall	concurrency
Abmessung im Submikrometerbereich	submicron dimension
Abtastwert im Zeitpunkt	sample value at time
Anlage im mittleren Kostenbereich	mid-range development system
Anlage im oberen Kostenbereich	high-end development system
Anlage im unteren Kostenbereich	low-end development system
Anlagerung von Sauerstoff im Material des Siliziumwafers	precipitation of oxygen in the bulk of the silicon wafer
Anordnung mit 128 Fotodioden im Rastermaß von 0,1 mm	array with 128 photodiodes on 0.1 mm pitch
Anschlußstruktur im Folienbondverfahren	microinterconnect lead pattern
Anschwellen im Naßentwicklungsprozeß	swelling in the wet development process
auf eine Chromplatte im Kontaktverfahren kopieren	contact-print onto a chrome plate
Aufdampfung im Vakuum	vacuum evaporation
Auflösung im Submikrometerbereich	submicron resolution
Aufquellen im Naßentwicklungsprozeß	swelling in the wet development process
Aufstäuben im Hochvakuum	high-vacuum sputtering
Ausbauchung im Wafer	bulge within the wafer
Ausheizung im Ofen bei 700 °C	furnace annealing at 700 °C
Ausschnitt im Polyimidfilm	cutout in the polyimide film
aussetzender Fehler im Speicher	intermittent error in memory
automatische Waferhandhabung im Substrathalter	cassette automatic handling
automatisches Speichern im Stapelspeicher	automatic stacking
Barriere im Oberflächenpotential	barrier in the surface potential
Bauelementstrukturen im 1-μm-Bereich	device geometries in the 1 μm feature region
Bauelementstrukturen im Submikrometerbereich	device geometries with submicrometre dimensions
Belichtung im kontaktlosen Verfahren	non-contact printing
Belichtung im Kontaktverfahren	contact printing
Belichtung kleinerer Felder im Step-und-Repeat-Verfahren	step-repeat exposure of smaller fields
Belichtung mit Wellenlängen im fernen Ultraviolett	deep UV exposure
Belichtung mit Wellenlängen im nahen Ultraviolett	NDRO UV exposure
benachbarte Chips im Scheibenverband	adjacent chips in the wafer matrix
Betriebsart im Bereitschaftszustand	standby mode (of operation)
Betriebsweise im Bereitschaftszustand	power-down mode
Bilder im Step-und-Repeat-Verfahren auf Wafer übertragen	step images on wafers
Bildprofil im entwickelten Resist	resist profile
Bildprofil im entwickelten Resist	image profile in the developed resist
Bildprojektion im Maßstab 1:1	1:1 image projection (Projektionslithografie)
Bildung von Strukturelementen im 1-pm-Bereich	formation of features in the 1 μm range
Bindungsenergie im Resistmolekül	bond energy in the resist molecule
Blocksuchbefehl im Speicher	memory block search
Blocktransfer im Speicher	memory block move
Böschungsprofil der Linie im Positivresist	line edge profile in positive resist
das Bild der Schablone im Verhältnis 1:1 auf den Wafer projizieren	project the image of the mask at one to one magnification on to the wafer
das Bild im Abstandsverfahren belichten	make the print in proximity
das kleine Bildfeld im Step-und-Repeat-Verfahren auf dem Wafer reproduzieren	step the small image field over the wafer
das Programm im letzten Speicherauszugspunkt wiederanlaufen lassen	restart the program from the last dump point
das Substrat im Ionenstrahl drehen	rotate the substrate in the ion beam
Defektretikel im Step-und-Repeat-Verfahren in willkürlich ausgewählte Plätze auf der Maske abbilden	step defect reticles into randomly selected locations on the mask
den Inhalt im Hilfsspeicher Zwischenspeichern	dump the contents to a backing store
den Operateur im Waferhandhabungsprozeß in größtmöglichem Maße ausschalten	eliminate the operator in the wafer handling process to the greatest extent possible
den Strahl in verschiedenen Stellen im Raster helltasten	turn the beam on at various points in the scan
Dicke im Mittelpunkt	centre-point thickness
Dicke Null im Abschnürpunkt	zero-access thickness at the point of pinch-off
die Daten im Multiplexbetrieb in den Bus speisen	multiplex the information onto the bus (eingeben)
die Schaltung im Versuchsaufbau herstellen	breadboard the circuit
die Schicht im belichteten Bereich unlöslich machen	insolubilize the coating in the exposed region
die Störstellen im massiven Wafermaterial anlagern	trap the defects in the bulk of the wafer
die Substrate im Gehäuse installieren	mount the substrates in the package
die vorhandenen Daten im Datenfeld verfälschen	distort the existing data in the field
Direktbelichtung der Wafer im lithografischen Verfahren	direct lithography on wafers (s.a. direct writing on the wafer)
Direktbelichtung der Wafer im Step-und-Repeat-Verfahren	direct wafer stepping
Direktbelichtung der Wafer im Step-und-Repeat-Verfahren	direct stepping on wafers
direkte Waferbelichtung im Step-und-Repeat-Verfahren	direct-step-on-wafer exposure
Donatordichte im Kollektor	collector donor density
Drainstrom im Abschnürpunkt	drain current at the point of pinch-off (MOSFET)
Drainstrom im äußeren Anschluß	drain current in the external terminal
Durchbruch im Polyimidfilm	cutout in the polyimide film
ein einziges großformatiges Bild im Abbildungsmaßstab 1:1 projizieren	project a single large format image at final size
ein Programm im Speicher löschen	erase a program from memory
Einbau von stark absorbierenden Chloratomen im Resist	incorporation of strongly absorbing chlorine atoms in the resist
eine im Register gespeicherte Zahl erhöhen	advance a number stored in a register
eine konstante Linienbreite im Resist einhalten	maintain a constant resist feature size
eine Lichtsonde im Abtastverfahren über einen Defekt führen	scan a light spot over a defect
eine Struktur im Fotoresist auf dem Wafer schreiben belichten	delineate a pattem in the photoresist film on a wafer (Elektronenstrahllithografie)
einen Befehl im Hauptspeicher wiederauffinden	retrieve an instruction from main memory
einen Wafer im Step-und-Repeat-Verfahren belichten	expose a wafer in step-repeat fashion
Einfang im pn-Übergangsbereich	trapping in the junction region
Einzelbildabstand im Step-und-Repeat-Feld	die step-and-repeat distance
Elektronenstrahlschreiben von Bauelementstrukturen im Submikrometerbereich	electron-beam delineation of submicron geometry devices
Elektronenstrahlsonde mit einem Durchmesser im Mikrometerbereich	micron-sized electron-beam probe
Elektronenstreuung im Schichtsubstrattarget	electron scattering within the film-substrate target
Erhebung im Silizium	step in silicon
Fehler im Gerät feststellen	diagnose malfunctions in the equipment (erkennen)
Fehler im logischen Schaltungsentwurf	logic design flaw
Fehler im Schaltungsentwurf	circuit design flaw
Fehler im Übertragungsraster	framing error (Formfehler bei der seriellen Datenübertragung)
Fertigungsfehler im optischen System	fabrication error in the optical system
Fertigungstechnik im Submikrometerbereich	submicron microfabrication technology
Feststellung von fehlerhaften Plazierungen im Entwurf	identification of misplacements in the design
FET mit Kanallängen im Submikrometerbereich	submicron channel length FET
geometrische Struktur im Mikrometerbereich	micron-sized geometry
Gerade im Diagramm	straight line on the graph
Gettern im Kristallgitter	intrinsic gettering
große Datenmengen im On-line-Betrieb in einem Zentralprozessor speichern	store large volumes of data on-line to a central processor
Halbleiterscheibe im gesägten Zustand	as-sawn slice
im Bearbeitungsprozeß befindliches Substrat	substrate-in-process
im 1- bis 5-MHz-Bereich arbeiten	operate over a 1-to-5 megahertz range
im Dialog	interactive
im Einsatz versagen	fail in the field
im Kontaktverfahren verwendete Abstandsjustier- und Belichtungsanlage	proving machine used in contact mode
im L-Zustand bleiben	stay low
im Projektionsverfahren belichten	project-print
im 1:1-Projektionsverfahren belichteter Wafer	1:1 printed wafer
im Ruhezustand betreiben	power down
im Siebdruck hergestellt	screened-on (z. B. Widerstände)
im Speicher ohne Änderung umlaufen	circulate in the store without alteration
im Sperrbereich	at cutoff (Transistor)
im Step-und-Repeat-Verfahren auf dem Wafer mehrfach reproduzieren	step and repeat across the wafer
im Step-und-Repeat-Verfahren auf dem Wafer schachbrettartig vervielfältigen	step and repeat on the wafer
im Step-und-Repeat-Verfahren belichten	step-and-repeat-print (kopieren)
im Step-und-Repeat-Verfahren belichten	expose in a step-and-repeat fashion
im Step-und-Repeat-Verfahren die Struktur auf dem Wafer vielfach abbilden	step the pattern across the wafer (reproduzieren)
im Step-und-Repeat-Verfahren übertragen	step and repeat
im Sättigungszustand arbeiten	operate in saturation
im Temperaturbereich von 0 bis 50 °C arbeiten	operate over the temperature range from 0 to 50 °C
im Vakuum aufdampfen	vacuum-deposit
im Verkehr stehen mit	communicate with
im Wartezustand	idle
im Übersteuerungsbereich	in saturation (Transistor)
in Datenleitungen im Eingabezustand	data bus
Inversion im Kanal hervorrufen	produce inversion in the channel
Ionensonde im Submikrometerbereich	submicron focussed ion beam
kleinste Abmessungen im 1 bis 2-Mikrometerbereich	least dimensions in the 1 to 2 μm range
kleinste Strukturbreite im Submikrometerbereich	submicron minimum feature size
Leistungsverbrauch im Ruhezustand	standby power consumption
Leistungsverbrauch im Ruhezustand	quiescent power consumption
Leistungsverbrauch im Ruhezustand	power dissipation on standby
Linien im Abstand von 50 nm	lines on 50 nm pitch
Marken im Wafertisch eingravieren	engrave marks in the wafer stage
Maskenjustierung durch ein Objektiv im Projektionsverfahren	project mask alignment through a lens
MESFET im Verarmungsbetrieb	depletion-mode MESFET
Messung im laufenden Verfahren	in-process measurement
mikrolithografische Fertigungsmöglichkeit im Submikrometerbereich	submicron microlithographic capability
Mikromeßsystem für Strukturen im Submikrometerbereich	micromeasurement system for submicron geometries
mit der optischen Achse im Mittelpunkt	centred about the optical axis
5 mm x 5 mm-Felder rasterförmig im Step-und-Repeat-Verfahren belichten	expose 5 mm x 5 mm fields in step-and-repeat raster-scan fashion
Montage im Gestellrahmen	rack mounting
Möglichkeit der Kombination linearer und digitaler Schaltungen im gleichen Siliziumchip	digilin capability
n-Dotierungsstoffe im Trägergas	n-type impurity in carrier gas
nicht im Speicher befindliches Programm	non-resident routine
optische Belichtung im Kontaktverfahren	optical contact-printing exposure
Potential im massiven Material des Siliziums	potential in the bulk of the silicon
Programmieren im Teilnehmersystem	time-shared programming
Radixpunkt im dezimalen Zahlendarstellungssystem	radix point in the decimal notation system
realer Rahmen im Arbeitsspeicher	page frame in main memory
Realseitenrahmen im Arbeitsspeicher	page frame in main memory
Reststrom des Adreßbusses im HOLD-Zustand	address bus leakage during HOLD
Reststrom des Datenbusses im Eingangszustand	data bus leakage in input mode
Risse im Substratmaterial	crow's feet (in Form eines Krähen fußes)
Rundung im Divisionsverfahren	round-off in the division process
Schaltgeschwindigkeit im Nanosekundenbereich	nanosecond switching speed
Schaltgeschwindigkeit im Pikosekundenbereich	picosecond switching speed
Schaltkreisstrukturen im Additionsverfahren direkt auf Wafer verkleinert abbilden	step and repeat circuit patterns directly on wafers
Schaltkreistechnik im Submikrometerbereich	submicron circuit technology
Schreiben der gewünschten Struktur im Resist	delineation of the desired pattern in the resist
sich im Durchschnitt auf eine Maske je Wafer belaufen	average out to one mask required per wafer
sich im freien Zustand bis zu 15 μm durchbiegen	bow up to 15 μm in the free state
sich im Gleichlauf befinden	track
sich im umgekehrten Verhältnis ändern wie die Anzahl der Wafer-Masken-Kontakte	vary inversely as the number of wafer-to-mask contacts
sich im Verhältnis von 1/K verkleinern	scale as 1/K
sich im Wert ändern	vary in value
sich im wesentlichen geradlinig auf den Vakuumkammerwänden niederschlagen	deposit essentially line-of-sight on the vacuum chamber walls (Ionenstrahlätzen)
Sonde mit einem Durchmesser im Submikrometerbereich	submicron size probe
Spannung im Durchlaßzustand	on-state voltage
Spannung im Kristallgitter	structural stress
Spannungsabfall im Transistor	voltage drop across the transistor
Speicher mit geschütztem Inhalt im Bereitschaftszustand	power-down store (bei Ausfall oder Abschaltung der Versorgungsspannung)
Sperrschicht im Draingebiet	drain junction
Sperrschicht im Source-Gebiet	source junction
steile Absorptionskante im Langwelligen	sharp cutoff in the long-wavelength region
steile Kante im Langwelligen	sharp cutoff in the long-wavelength region
Stellenwertpunkt im dezimalen Zahlendarstellungssystem	radix point in the decimal notation system
Strahlstrom im Crossover	beam current at the crossover
strahlungsbedingte Störung im Gitter	radiation-induced defect in the lattice
Struktur mit Abmessungen im Submikrometerbereich	pattern with submicron geometries
Strukturbilder auf die Halbleiterscheibe im Step-und-Repeat-Verfahren übertragen	step and repeat images across on the wafer
Strukturen auf der Scheibe direkt im Resist herstellen	pattern images on the slice directly in the resist
Strukturen im Bereich von 0,5 bis 1 μm	geometry in the 0.5-to-1 μm range
Strukturen im Step-und-Repeat-Verfahren direkt auf Wafer übertragen	step and repeat circuit patterns directly on wafers
Strukturierung im Submikrometerbereich	submicron patterning
Strukturierung im Submikrometerbereich	patterning in the submicron range
Strukturübertragung im Verhältnis 1:1	image transfer at a 1:1 ratio
Sublimation /im Vakuum	vacuum sublimation
symmetrisch im Links-Rechts-Sinn um eine vertikale Mittellinie	symmetrical in a left-right sense around a vertical centreline
System im mittleren Kostenbereich	mid-range development system
System im oberen Kostenbereich	high-end development system
System im unteren Kostenbereich	low-end development system
Teildurchprüfung im Bocksprungprogramm	crippled leapfrog test
Teilerfunktion im Verhältnis 1:2	divide-by-two function
Teilerstufe im Verhältnis 1:2	divide-by-two stage
Testen im Schaltkreis	in-circuit testing
Transistor im gesperrten Zustand	transistor at cutoff
Unterschied im spezifischen Wider stand um eine Größenordnung	order-of-magnitude difference in resistivity
vereinzelte Chips im Scheibenverband auf dem Substrat	separated chips in wafer matrix on substrate
Verkappen im Spritzgußverfahren	injection moulding
Verlustleistung im eingeschalteten Zustand	on-state power dissipation
Verlustleistung im Ruhezustand	power dissipation on standby
Verlustleistung im Ruhezustand	quiescent power dissipation
Verlustleistung im Ruhezustand	dissipation during standby
Verschiebung von Wafer und Maske im Stop-and-go-Betrieb	stop-and-go wafer and mask displacement
Vertiefung im Silizium	groove in silicon
Verzögerung im Subnanosekundenbereich	subnanosecond delay
VLSI-Schaltkreise mit Strukturabmessungen im Mikrometer- oder Submikrometerbereich herstellen	fabricate VLSI circuits with 1 micron geometries or smaller
vorausbestimmter Platz im Programmspeicher	predetermined location in program memory
Vorhärten im Infrarotofen	infrared softbaking
Vortrocknen im Infrarotofen	infrared softbaking
Vortrocknungszeit im Ofen	oven softbaking time
Waferbelichtung im Abbildungsmaßstab 1:1	1:1 wafer printing
Wiederauffindung der Daten im Speicher	data retrieval from the memory
zeitweilige Unterbrechungen im Programmablauf einfügen	introduce temporary pauses in program execution
Zugriff auf Daten im Plattenspeicher	disk accessing
Zusatzmöglichkeit des Betriebs im Bereitschaftszustand	power-down feature
Öffnungen im Resist	openings in the resist
Überdeckungsforderungen im Submikrometerbereich	overlay requirements in the submicrometre region
Übertragung der Bilder im Step-und-Repeat-Verfahren auf den Wafer	step-and-repeat wafer imaging (s.a. wafer stepping)
Übertragungsfehler im Step-und-Repeat-Verfahren	stepping error

Get short URL