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Terms for subject Microelectronics containing registration | all forms | exact matches only

English	German
array registration	Überdeckungsgenauigkeit der Einzelfelder (im Chipverband)
chip registration mark	Chipüberdeckungsmarke
coarse registration	Grobüberdeckung
field-to-field registration with benchmarks	feldweise Uberdeckung mit Feinjustiermarken
fine registration	Feinüberdeckung
front-to-back pattern registration	Strukturüberdeckung zwischen Vorder- und Rückseite
front-to-back registration	Überdeckung der Vorder- und Rückseitenstrukturen
imprecise level-to-level registration	ungenaue Überdeckung zwischen den Ebenen
interlevel registration	Überdeckungsgenauigkeit von Ebene zu Ebene
layer-to-layer registration	Überdeckung zwischen den Schichten
level to-level registration tolerance of 0.1 μm	Überdeckungstoleranz von 0,1 μm zwischen den Ebenen
level-to-level registration	Überdeckung zwischen den Ebenen
level-to-level registration accuracy	Überdekkungsgenauigkeit zwischen den Ebenen
level-to-level registration of masks	Überdekkung der Masken von Ebene zu Ebene
mask registration	Maskenüberdeckung
mask-layer overlay registration	Überdekkungsjustierung der Maskenebenen
mask-to-mask registration	Überdeckungsgenauigkeit von Maske zu Maske
mask-to-wafer registration	Justierung von Maske zu Wafer
mask-to-wafer registration	Maske-Wafer-Überdeckung
mask-wafer registration	Maske-Wafer-Überdeckung
overlay registration	Überdeckungsjustierung
pad registration	Kontaktinseljustierung
pattern registration error	Strukturüberdeckungsfehler
precision registration and overlay capability	Feinjustier- und Überdeckungsmöglichkeit
provide a more reliable signal for registration	ein zuverlässigeres Signal für die Justierung liefern
reference registration mark	Bezugsjustiermarke
registration accuracy	Überdeckungsgenauigkeit
registration beam	Justierstrahl
registration capability	Überdeckbarkeit
registration check	Überdeckungskontrolle
registration error between masks	Überdeckungsfehler zwischen Masken
registration from level to level	Überdeckung von Ebene zu Ebene
registration mark of heavy metal	Schwermetalljustiermarke
registration mark of heavy metal	Justiermarke aus Schwermetall
registration mark of heavy metal	Justiermarke von Schwermetall
registration of the mask images from level to level	Überdeckung fder Maskenbilder zwischen den Ebenen
registration of the separate masking steps	Oberdekkung fder getrennten Maskierungsschritte
registration precision	Überdeckungspräzision (des Abbildungssystems)
registration requirement of the mask design	Überdeckungsanforderung des Maskenentwurfs
registration test pattern	Überdeckungsteststruktur
registration time	Justierzeit
registration tolerance	Überdeckungstoleranz
registration with the underlying pattern	Überdekkung mit der darunterliegenden Struktur
residual registration error	Restüberdeckungsfehler
scan the electron beam over registration marks	das Elektronenstrahlbündel rasterförmig über die Feinjustiermarken führen
subsequent registration	nachfolgende Überdeckung
tight registration tolerance over a large mask area	enge Überdeckungstoleranz in einer großen Maskenfläche
tighter fitting registration	Überdeckung mit engeren Toleranzen
tolerable registration error	zulässiger Überdeckungsfehler
top-to-bottom registration	Überdeckung zwischen oberer und unterer Maske (doppelseitige Fotolithografie)

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