Subject: полупроводниковые пластины речь идет о приборе проверки полупроводниковых пластинв пункте преимущества указано вот это: -polar or cartesian coordinates options -specular reflectance and transmission sampling-standard -operator selectable or predefined multiple point maps (последнюю часть предложения не понимаю) есть у кого какие мысли? заранее спасибо всем |
посмотрите мой ответ на Ваш топик с вопросительными знаками. - полярные и декартовы координаты |
можно по ходу спросить, карты в смысле схемы ? |
пластина кремниевая состоит из поля прямоугольных кристаллов. Карта - это изображение на бумаге или экране монитора пластины с указанием места на ней, где встретился негодный чип. Если таких много, пластину просто выбрасывают, дороже обойдется вырезать из нее остатки. У аскера похоже описывается машинка, которая тестирует кристаллы не электрически, ползая по ней и измеряя зондом параметры, а оптически, когда лучом что-то там исследуют в нужном месте и по отражению/неотражению принимают решение, что чип бракованный. |
You need to be logged in to post in the forum |