Tilt Macro Inspection

link 15.07.2009 16:56

Subject: Tilt Macro Inspection

Уважаемые специалисты!
Большая просьба помочь с переводом следующего термина: Tilt Macro Inspection. Речь о системе для контроля полупроводниковых пластин фирмы Nikon NWL-860. Из описания Specifations:

Inspection Mode: Micro Inspection, Tilt Macro Inspection. Backside center macro inspection etc.

Как здесь перевести "tilt"? Макроконтроль в наклонном положении? Или "Макроконтроль по углу места"? Или как-то еще?

Спасибо!

alk ✉ moderator

link 15.07.2009 17:12

Судя по
http://semiconductor.firstlightera.com/EN/Microsites/1/Olympus+ITA/AL2100
http://www.equiptechonline.com/wafer.htm
http://www.olympus-ita.com/al3100_product_overview.pdf
...
Macro inspection is easily programmed for various positions and rotation speeds,
or the operator can use a joystick to control wafer tilt for optimum observation.

можно говорить о макроинспекции под наклоном или в наклонном положении.

lisulya ✉

link 15.07.2009 19:36

под наклоном + 1

You need to be logged in to post in the forum

Get short URL