 |
|
Subject: sampling; inspection patterns (контроль качества п/проводников) The new wafer-slot buttons on the front panel allow users to select any wafer from its slot with a single button. In addition, the large and prominent LCD panel allows users to set the conditions such as the sampling and inspection patterns, and to check the operating status and the content of errors at a glance.Новые кнопки управления приемными карманами для пластин на передней панели дают возможность пользователю выбрать любую пластину из ее кармана нажатием на одну кнопку. Кроме того, большая выпуклая ЖК-панель дает пользователям возможность задать параметры, такие как ?? и ??, а также мгновенно проверить рабочий статус и наличие ошибок. Подскажите, пожалуйста, как в данном случае перевести SAMPLING и INSPECTION PATTERNS. Спасибо! |
| Может быть: SAMPLING - количество образцов (пластин), INSPECTION PATTERNS - контрольный образец (пластина) |
|
Тут pattern относится как к inspection, так и sampling, то есть пользователи могут задавать sampling patterns и inspection patterns Ну, например, схемы/модели/правила/методы отбора [образцов для исследования] и исследования образцов |
|
link 14.07.2009 20:02 |
|
ИМХО, здесь речь идет о sampling patterns и inspection patterns. Sampling, кажется мне, не может быть параметром (условием). А вот характер его - как раз да. Итог размышлений: |
| Большое спасибо всем! |
|
link 14.07.2009 21:34 |
|
модель выборки (sampling) и контроля (inspection). То бишь в Вашем контексте: |
| You need to be logged in to post in the forum |