Capturing the entire wafer surface in a single image provides one of the world’s highest throughputs for an automatic macro inspection system (150 wafers/hour), enabling 100% lot inspection.

Получение данных обо всей поверхности пластины на одном-единственном изображении обеспечивает выдающуюся пропускную способность – одну из самых высоких в мире среди автоматических систем макроконтроля - 150 пластин в час, за счет чего достигается 100 % выборочный контроль(?)

Multitran дает для "lot inspection" "выборочный контроль". Но я не понимаю, как "выборочный контроль" может быть стопроцентным? Я думала, что если контроль 100%, то это уже не выборочный, а полный. Поясните, пожалуйста, может, я не права...