One of Nikon's most advanced and versatile semiconductor inspection systems, the Optistation 3200 provides three-mode macro inspection capability – front, backside center, and backside perimeter – as well as high performance lighting techniques that allow for detection of a wide variety of process defects and particle/scratch detection.

Будучи одной из самых передовых и универсальных систем контроля полупроводников от Nikon, Optistation 3200 обеспечивает возможность проведения контроля в трех режимах – спереди, центр задней стороны?? и периметр задней стороны?? – а также предоставляет высококачественное освещение, позволяющее обнаруживать широкий спектр производственных дефектов и ??/царапин.

ЧТо такое front, backside center, and backside perimeter? Спасибо!