XXX (name of the device) features TTL laser hight/profile scanning, intelligent pattern recognition and low contrast edge measuring. Designed for larger samples like FDP, LCD, PCB and mass-in-line inspections.

Вот что у меня получилось:

ХХХ имеет функции лазерного сканирования высоты/профиля через объектив, интеллектуального распознавания образов(?) и низкоконтрастного измерения кромок. Инструмент разработан для крупных образцов, таких как плоские панели?, жидкокристаллические дисплеи, печатные платы и для проведения массового контроля в линии???.

Пожалуйста, подправьте, если возможно (особенно там, где знаки вопроса, да и не только...)