רוסית ⇄ אנגלית

Пробой подзатворного диэлектрика в мощных МОП-транзисторах מתח
.מכשיר	single-event gate rupture (происходит в результате попадания в транзистор тяжёлых заряженных частиц с высокой энергией Klimonka)