| English | Russian |
| background due to thermal scattering | фон, обусловленный тепловым рассеянием (рентгеновских лучей) |
| broadening due to finite source width | уширение, вызванное конечной шириной источника излучения |
| broadening due to finite specimen size | уширение, вызванное конечным размером образца |
| broadening due to small crystal size | уширение, вызванное малыми размерами кристалликов |
| broadening due to wavelength spread | уширение, вызванное спектральной неоднородностью (используемого излучени) |
| cavity due to shrinkage | усадочный дефект (Nik-On/Off) |
| deformation due to hardening | коробление при закалке |
| due diligence | комплексная экспертиза предприятия |
| error due to | погрешность, обусловленная (напр., горизонтальной расходимостью первичного пучка рентгеновских лучей; ...) |
| lattice imperfections due to impurities | несовершенства кристаллической решётки, вызванные присутствием примесей |
| lattice imperfections due to impurities | дефекты кристаллической решётки, вызванные присутствием примесей |
| line broadening due to variations in composition | уширение линии, вызванное неоднородностью состава |
| line broadening due to variations in composition | расширение линии, вызванное неоднородностью состава |
